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德國EPK MINITEST740涂層測厚儀

型號:

產(chǎn)品時間:2024-08-27

簡要描述:

德國EPK MINITEST740涂層測厚儀
什么是SIDSP?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,的涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理,這項技術(shù)使探頭在測量時,同時在探頭內(nèi)部將信號*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術(shù)生產(chǎn)。

詳細介紹
品牌ElektroPhysik/德國EPK價格區(qū)間1萬-2萬
產(chǎn)地類別進口應用領(lǐng)域化工,石油,交通,航天,汽車

德國EPK MINITEST740涂層測厚儀

-創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的精H確性

-測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用

-FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯

 

SIDSP技術(shù)-全J球技術(shù),智能數(shù)字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時代已成過去,數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢

什么是SIDSP?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,世界的涂層測厚探頭技術(shù)。EPK此項技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理,這項技術(shù)使探頭在測量時,同時在探頭內(nèi)部將信號*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術(shù)生產(chǎn)。

SIDSP工作原理?
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號,回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您精J確的涂層厚度值。此項*的數(shù)字處理技術(shù),同時應用在現(xiàn)代通訊技術(shù)(手機網(wǎng)絡)方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機分析,等等。此項技術(shù)能獲得與模擬信號處理*的信號質(zhì)量和精J確度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢,為涂層測厚設定了一個新的標準。

為什么選擇SIDSP?
SIDSP探頭具有*的抗干擾性
任何與測量相關(guān)的信號,都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾,因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電,并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題,加長的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。

SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點測量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果,再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)J秀性能。

 

 


高精J確度的SIDSP探頭特征曲線
在生產(chǎn)過程中,EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴格的校準。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準,但SIDSP探頭不同:由于是全自動化過程,探頭在50個點上進行校準,大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個量程范圍內(nèi)都十分精J準,將測量錯誤降至Z低。

 

SIDSP探頭對溫度變化不敏感
在生產(chǎn)過程中,對每個SIDSP探頭都進行了溫度補償?shù)木幋a,這對于模擬探頭是根本不可能實現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會影響測量,與溫度相關(guān)的錯誤不會在SIDSP探頭上發(fā)生!

 

SIDSP探頭適應性強
需要快速測量幾個點嗎?只要開啟快速測量模式,探頭自動轉(zhuǎn)換到特定設置。想進行高精度測量嗎?沒問題,只要選擇高精度模式,儀器同樣能自動轉(zhuǎn)換。不論您要求測量單個數(shù)值還是連續(xù)測量,SIDSP都能完成您的選擇!

SIDSP N和FN型探頭基體導電性補償
由于使用了EPK特殊的自動補償方法,SIDSP電渦流探頭可以適應多種導電性不同的非鐵基體材料,如銅,鈦,等等,無需特別在基體上校準儀器。

 

SIDSP-未來解決方案
EPK將繼續(xù)改進SIDSP技術(shù)以滿足客戶的需求。您可以從EPK的進行免費的軟件升級,使您的SIDSP探頭總是版本。

 

 

MINITEST 700系列及SIDSP
新的MINITEST 700產(chǎn)品線,加強了EPK在全J球涂層測厚市場的.

有了新的SIDSP F型探頭(測量鐵基體)和N型探頭(測量非鐵基體),您可享受到高精J確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題,而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價值和成功的關(guān)鍵,比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑,或電鍍等行業(yè)。

增加了測量速度設置選項
MINITEST 700可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下,您可以短時間測量大量數(shù)值;也可以只測量少數(shù)幾個數(shù)值,但要求精度很高,您只需選擇相應的模式就可以做到。測量值超過您所設定的極限值時,儀器會報警,保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警,在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。

使用簡單方便
MINITEST 700按照人體工學設計,外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗的靈活性,MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭,方便測量難以到達的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求:如果您想單手測量,可以選擇內(nèi)置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號都配有一個超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn),方便您讀取數(shù)據(jù)。
預設選項節(jié)省您的時間和金錢
所有MINITEST 700探頭都可以對不規(guī)則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時,整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進行校準。為節(jié)省您的時間和金錢,儀器預設了大量校準方法,適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準,零點校準,2點校準和3點校準。另外,還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準。FN探頭自動識別基體類型避免操作者犯錯。為適應全J球銷售需要,MINITEST 700滿足各種標準:SSPC-PA2,ISO,瑞典(SS184160),澳大利亞(AS 3894.3),ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。


MINITEST 700優(yōu)點一覽:
-SIDSP使測量不受干擾,測值更加精J確
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高精J確度的特征曲線
-大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
-超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
-可下載更新軟件

 


標準配置:                                                                                                   
帶塑料手提箱,內(nèi)含:                                                                                 
-MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
--或MINITEST 730(外置探頭)
--或MINITEST740主機(不含探頭,有各種探頭可選)
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池

 推薦配件:
 -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架

技術(shù)數(shù)據(jù)表
SIDSP探頭


探頭
特性
F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5F2F5,N2.5,F(xiàn)N5F15
FNFFNF
測量范圍0-1.5mm0-0.7mm0-2mm0-5mm0-2.5mm0-15mm
使用范圍小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用粗糙表面標準探頭,使用廣泛厚涂層
測量原理磁感應電渦流磁感應磁感應電渦流磁感應
信號處理探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP)
精J確度±(1μm+0.75%讀值)±(1.5μm+0.75%讀值)±(5μm+0.75%讀值)
重復性±(0.5μm+0.5%讀值)±(0.8μm+0.5%讀值)±(2.5μm+0.5%讀值)
低端分辨率0.05μm0.1μm1μm
Z小曲率半徑(凸)1.0mm1.5mm5mm
Z小曲率半徑(凹,外置探頭)7.5mm10mm25mm
Z小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭)30mm30mm30mm
Z小測量面積Φ5mmΦ10mmΦ25mm
Z小基體厚度0.3mm40μm0.5mm0.5mm40μm1mm
連續(xù)模式下測量速度每秒20個讀數(shù)
單值模式下Z大測量速度每分鐘70個讀數(shù)

 

 

主機


型號
特性
MINITEST 720MINITEST 730MINITEST 740
探頭類型內(nèi)置外置內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)1010100
存儲數(shù)據(jù)量Z多10,000個Z多10,000個Z多100,000個
統(tǒng)計值讀值個數(shù),Z小值,Z大值,平均值,標準方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標準設置/自由配置)
校準程序符合標準和規(guī)范ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準
校準模式出廠設置校準,零點校準,2點校準,3點校準,使用者可調(diào)節(jié)補償值
極限值監(jiān)控聲、光報警提示超過極限
測量單位um,mm,cm;mils,inch,thou
操作溫度-10℃-60℃
存放溫度-20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口IrDA 1.0(紅外接口)
電源2節(jié)AA電池
標準DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2
體積157mm x 75.5mm x 49mm
重量約175g約210g約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

 


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